Wie lange hält ein Stecker wirklich?

Stecker Leben ist ein Maß für die Leistung und Zuverlässigkeit der primären Indikatoren, mit der steigenden Nachfrage nach störungsfreien Leistung von elektronischen Produkten, Stecker-Design, um die Lebensdauer eines Design-orientierte verbessern. Darüber hinaus erfordert der zunehmende Wettbewerb auf dem Markt auch Designer, um geeignete Materialien in nicht teuren Legierungen zu finden, um die Kosten für Steckverbinder zu reduzieren. In vielen Fällen hat die Kombination dieser Trends dazu geführt, dass die Betriebseigenschaften von Kupferlegierungen in Steckverbindern näher an ihre Leistungsgrenzen gebracht wurden. Die Anfangskontaktkraft ist ein wichtiger Faktor für die Konstruktion von Steckverbindern und die Materialeigenschaften. Da die elastische Verformung im Kontakt in eine plastische Verformung umgewandelt wird, führt der Spannungsabbau zu einer Verringerung der Kontaktkraft. Fällt die Kontaktkraft unter ein bestimmtes kritisches Niveau, kommt es zu einem Funktionsausfall des Kontakts. Daher ist die Vorhersage des Spannungsabbaus in Abhängigkeit von Zeit und Temperatur natürlich ein Schlüsselfaktor für die Gewährleistung der Zuverlässigkeit von Steckverbindern. Im Folgenden stellt Huicheng Yuan Electronics die Probleme im Zusammenhang mit Spannungsentlastungstests zur Vorhersage der Lebensdauer von Steckverbindern im Detail vor.

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Zugentlastungsdaten sind ein wirksames Instrument für Konstrukteure zur Vorhersage der Lebensdauer elektronischer Steckverbinder und ermöglichen ihnen, auf der Grundlage der verfügbaren Daten Entscheidungen über die Auswahl von Kontaktmaterialien zu treffen. Diese Daten werden heute in der Computer-, Kommunikations- und Automobilelektronikindustrie weithin verwendet. Gegenwärtig gibt es nur wenige Daten über die Lebensdauer von Produkten, insbesondere im Computerbereich. Nicht nur das, es sind auch nützlichere Daten, um den Produktentwicklungszyklus und das Verfallsdatum zu verkürzen. Die meisten Konstrukteure von Steckverbindern verwenden Daten zur Spannungsentlastung in erster Linie, um die Auswahl des Kontaktmaterials auf die Anforderungen der Anwendung einzugrenzen. Viele Konstrukteure sind jedoch auch auf der Suche nach geeigneten Testmethoden, um die Lebensdauer von Steckverbindern genauer vorhersagen zu können. Dies kann die Anzahl der für die Prüfung erforderlichen Proben und die damit verbundenen Kosten erheblich reduzieren. Derzeit ist die raue Umgebung und die Haube des Automobil-Steckverbinders meist in der Gestaltung der technischen Anforderungen der 3 oder 1 verwendet; und die nächste Generation von Automobil-Steckverbinder Betriebstemperatur wird voraussichtlich zu erhöhen. Es scheint nur so, dass die meisten Nicht-Automobil-Steckverbinder ihre Stabilität unter den oben genannten Bedingungen nicht aufrechterhalten müssen. Steckverbinder mit hoher Packungsdichte erfordern jedoch eine geringere anfängliche Steckkraft, was wiederum den Umfang der Spannungsentlastung verringert. Daher ist der Spannungsabbau auch bei niedrigeren Temperaturen ein wichtiges Merkmal. Die Standardmesszeit, die für anwendungsspezifische Prüfdaten erforderlich ist, lässt sich im Allgemeinen nur schwer genau bestimmen. Für die Auswertung von Daten, die Produkte der Automobilelektronik charakterisieren, können Testzeiten zwischen 1000h und 3000h bei der gewünschten Einsatztemperatur verwendet werden. Es gibt Anzeichen dafür, dass den Charakterisierungsdaten jenseits von 3000h, d.h. zwischen 3000 und 5000h (entspricht einer Lebensdauer von 150.000 Meilen), mehr Aufmerksamkeit geschenkt wird. Die Extrapolation von Testdaten (ohne Berücksichtigung von Änderungen der Neigung) kann zu einer Überschätzung der Lebensdauer des Kontakts führen, die mit der Zeit zunimmt. Die halblogarithmische grafische Darstellung der Daten bei einer bestimmten Temperatur ist derzeit die am weitesten verbreitete und am dringendsten benötigte Methode. Sie ist auch der einfachste Weg, um Materialien für eine bestimmte Anwendung zu vergleichen. Es sollte jedoch betont werden, dass die extrapolierten Daten sorgfältig geprüft werden sollten und die Möglichkeit einer Überschätzung der endgültigen Lebensdauer berücksichtigt werden sollte. Die folgenden Schlussfolgerungen wurden aus den Versuchen zum Spannungsabbau gezogen: (1) Die Faktoren, die die Betriebsleistung von Steckverbindern näher an die Leistungsgrenzen der Legierung treiben, werden wahrscheinlich weiterhin vorhanden sein. Dies legt nahe, dass eine genaue Vorhersage der Spannungsentlastung für die Konstruktion von Steckverbindern entscheidend ist. (2) Wenn die Spannung als Korrelationsfunktion der Prüfzeit verwendet wird, ist häufig eine Änderung der Steigung zu beobachten. Daher sollte die Prüfzeit angemessen lang sein, um diese Eigenschaft zu erfassen. (3) Wenn eine gewisse Korrelation zwischen den gemessenen Daten und der Temperatur besteht, ist es sinnvoll, die verfügbaren Daten linear auf längere Prüfzeiten zu verallgemeinern. Unzulänglichkeiten sind außerdem die Tatsache, dass bei Überschreitung der Prüfzeit manchmal eine Schieflage auftritt und dass die Leistung bei anderen Temperaturen nicht vorhergesagt werden kann. (4) Der Larson-Miller-Parameter ist sehr nützlich, wenn Datenkurven bei verschiedenen Temperaturen in einer einzigen Abbildung dargestellt werden sollen. Diese Methode ist auch äußerst nützlich bei der Vorhersage der Leistung eines Materials zwischen den Temperaturen abgeschlossener und erwarteter Kurzzeitprüfungen und bei der Modellierung der Langzeitleistung des Materials. Sie kann jedoch nicht für eine Extrapolation über diesen Bereich von Prüftemperaturen hinaus verwendet werden. (5) Eine Kombination der beiden Methoden kann zur doppelten Überprüfung der extrapolierten Werte verwendet werden. (6) Das Walzen von Kupferbändern kann die Herstellung von Steckverbindern simulieren, was den gegenteiligen Effekt der Eigenschaften von C7025 und C17410 hat. (7) Die aus dem Band gewonnenen Daten weisen einige Einschränkungen auf, und da das Biegen während des Herstellungsprozesses der Steckverbinder erfolgt, spiegeln sie keine negativen Auswirkungen wider.

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